0755-83211462
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零件编号
产品分类
制造商
类型
封装
包装
数量
RoHS 状态
SN74BCT8373ADWRG4
专业逻辑
Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC
-
卷带式 (TR)
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价格:
$5.1030
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2000

$5.1030

$10,206.0000

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产品详情
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SN74BCT8373ADWRG4
零件编号
产品分类
制造商
类型
封装
包装
数量
RoHS 状态
规格书
SN74BCT8373ADWRG4
专业逻辑
Texas Instruments
IC SCAN TEST DE
专业逻辑
卷带式 (TR)
1
产品参数
PDF(1)
类型描述
制造商Texas Instruments
系列74BCT
包裹卷带式 (TR)
产品状态OBSOLETE
包装/箱24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
安装类型Surface Mount
位数8
逻辑类型Scan Test Device with D-Type Latches
工作温度0°C ~ 70°C
电源电压4.5V ~ 5.5V
供应商设备包24-SOIC
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